CRDR分辨率測(cè)試卡
簡(jiǎn)要描述:CRDR分辨率測(cè)試卡,是一種用于檢測(cè)CR(Computed Radiography,計(jì)算機(jī)放射成像)和DR(Digital Radiography,數(shù)字放射成像)系統(tǒng)空間分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成,這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值,量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過(guò)這些線對(duì),可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的分辨率性能。使用CRDR分辨率測(cè)試卡時(shí),
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-06-27
- 訪 問(wèn) 量:350
CRDR分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品名稱:DR分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品標(biāo)號(hào):SY20240626-04
產(chǎn)品銷售和生產(chǎn)單位::廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司,加工設(shè)計(jì)定制各種:DR分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品售后:質(zhì)保一年
產(chǎn)品運(yùn)輸:快遞運(yùn)輸,一般都是順豐發(fā)貨,送貨上門。
產(chǎn)品包裝:防震防水,放破損包裝。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:CRDR分辨率測(cè)試卡是一種用于檢測(cè)CR(Computed Radiography,計(jì)算機(jī)放射成像)和DR(Digital Radiography,數(shù)字放射成像)系統(tǒng)空間分辨率的工具。這種測(cè)試卡通常由一系列線對(duì)組成,這些線對(duì)具有不同的線對(duì)每毫米(LP/MM)值,量程一般在0.6-5.0LP/MM之間。通過(guò)這些線對(duì),可以評(píng)估X光影像系統(tǒng)的分辨率性能。
使用CRDR分辨率測(cè)試卡時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):
使用記錄:每次使用測(cè)試卡后,應(yīng)記錄下使用人、分辨率測(cè)試值以及進(jìn)行了哪些操作,以便對(duì)成像設(shè)備的分辨率進(jìn)行詳細(xì)的跟蹤和檢測(cè)。
日常維護(hù):要定期檢查測(cè)試卡的外觀,并注意其存放環(huán)境,避免因不良儲(chǔ)存環(huán)境導(dǎo)致卡片損壞。同時(shí),應(yīng)定期更換儲(chǔ)存塑料盒中的干燥劑,最長(zhǎng)時(shí)間不應(yīng)超過(guò)半年。
實(shí)驗(yàn)注意事項(xiàng):如果實(shí)驗(yàn)過(guò)程中需要使用大量有機(jī)溶劑,應(yīng)當(dāng)停止循環(huán)并待溶劑充分揮發(fā)后再繼續(xù)實(shí)驗(yàn),以防止對(duì)測(cè)試卡造成損害。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后,應(yīng)先清潔測(cè)試卡,然后再重新啟動(dòng)循環(huán)。射線分辨率線對(duì)卡(即分辨率測(cè)試卡)能夠客觀地描述射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)分辨率和實(shí)時(shí)成像檢測(cè)圖像分辨率(包括射線照相底片分辨率)的質(zhì)量指標(biāo)。它們通常配備不同線對(duì)數(shù)的線對(duì)卡,以滿足在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量測(cè)量需求。
在使用X射線分辨率測(cè)試卡時(shí),重要的是要確保X射線系統(tǒng)的各項(xiàng)參數(shù)符合要求,例如線器(縮光器)的鉛當(dāng)量、有用線束照射野的尺寸,以及總過(guò)濾等。合適的設(shè)置能夠保證系統(tǒng)在檢測(cè)時(shí)達(dá)到理想的分辨率效果。
產(chǎn)品編號(hào):SY20240626-04
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